연구진이 다이아몬드나 실리콘카바이드 같은 소재 속 미세 결함이 빛을 받았을 때 어떻게 거동하는지 설명하는 새로운 전산 방법을 개발했다. 이 방법으로 실리콘카바이드에서 기존에 과소평가됐던 에너지 손실 메커니즘이 실제로는 매우 중요하다는 사실을 밝혀냈다. 이는 그동안 연구자들을 오랫동안 혼란스럽게 했던 현상을 설명해주며, 양자컴퓨터와 양자센서 설계 개선에 도움이 될 수 있다.
핵심
- 결함이 빛에 노출될 때의 거동을 설명하는 새로운 전산 방법을 개발함
- 실리콘카바이드에서 과소평가됐던 에너지 손실 메커니즘을 확인함
- 오랫동안 풀리지 않던 현상을 설명하는 데 기여함
- 양자컴퓨터·양자센서 설계 개선에 활용될 수 있음



